EXF9600 贵金属纯度检测仪

EXF9600贵金属纯度检测仪特点

    无损：无损检测，不需要任何耗材
    JZ：美国进口Si-PIN探测器，对所有元素均能JZ检测
    便捷：集成工业计算机，双触摸屏显示设计，操作流畅便捷
    快速：3秒内可对样品定性识别，30—50秒内可得出测试结果
    直观：高清晰图形即时显示，检测结果直观明了
    安全：加装防辐射装置，主动保护操作人员安全

EXF9600贵金属纯度检测仪技术参数

    设备原理：X荧光能量色散
    元素分析：全元素
    检出限：100ppm（Z好基体效应）
    测量精度：±10PPM～0.1%
    扩展不确定度：≤0.19%
    镀层测量：镀层厚度范围<30um
    X射线源：Mo靶的X射线光管 风冷（无辐射）
    探测器：Si-PIN探测器(美国进口)
    分辨率：145Kev±5
    摄像头：高清晰摄像定位系统
    软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
    高压器：0～50Kv(进口)
    温度：-11～46℃
    电压：100～127V或220～240V，50/60Hz
    Z大功率：144W
    主体结构：高强度金属支架 工程塑料外壳
    重量：33公斤
    尺寸：670*400*330mm

EXF9600标准配置

    主动式射线保护
    高压过压保护
    光管过热保护
    扩展线材及辅助支架
    全局故障诊断
    升降压预启动
    全局故障诊断
    扩展屏(3.2/4.3)