薄膜分析仪 Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪薄厚测量

同步测量薄膜的反射率/穿透率

     不需要费时改变硬件配置，F10-RT-UV仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱，不到一秒钟的时间，阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外，Filmetrics的Autobaseline设计可以减少十倍以上的基准校准的参数读取时间。

分析优点

     F10-RT使Filmetrics的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的点击鼠标就能够产生在客户是定波长范围内，得出Z大与Z小的反射率与穿透率。系统内置边缘检测分析与FWHM分析，以及能针线于常见的空间色彩系统的色彩分析（例如：CIELAB与CIEXYZ）。而测量光谱与其他的数据能够很容易的透过打印与导出或以JPEG图片形式来传送。同时，选配膜厚和参数解算模块使F10-RT具有与Filmetrics F20相同多层薄膜分析能力。

健全、可靠的集成

F10-RT运送抵达时具有完整的标准配置，小巧的机身与USB接口保证使您容易安装。整机无任何运动件，初钨卤素灯外无需其他维护，确保设备高度可靠。

Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪薄厚测量Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪薄厚测量