SYB-WGG2-201 光学高温计 光学温度计 温度计SYB-WGG2-201
- 品牌:恒奥德
- 型号:SYB-WGG2-201
- 产地:北京恒奥德
- 供应商:北京恒奥德仪器仪表有限公司
- 供应商报价:面议
- 标签:光学高温计 光学温度计 温度计SYB-WGG2-201,-1,北京恒奥德仪器仪表有限公司
光学高温计型号:SYB-WGG2-201 | ||
SYB-WGG2型光学高温计时非接触式测量高温的仪表,当被测量的温度高于热电偶所能使用的范围,以及热电偶不可能装置或不适宜装置的场所,用光学高温计一般可以满足这个要求。 它广泛地用来测量冶炼、浇铸、轧钢、玻璃熔窑、锻打、热处理等温度,是冶炼、化工和机械等工业生产过程中不可缺少的温度测量仪表之一。 主要技术指标 SYB-WGG2型光学高温计能在环境温度10~50℃,相对湿度不大于85%的情况下连续工作。 物镜与目标之间的距离不小于700毫米。 标尺长度不小于90毫米。 净重约1.8公斤。 型号规格 测量范围℃: 700~1500 允许基本误差℃:(800~<900)±33,(900~1500)±22,800℃以下仅作参考 测量范围℃1200~2000允许基本误差℃:±30 | 光学高温计SYB-WGG2-201 |
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![]() | 产品名称:方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 产品型号:HAD-WSP-51 |
方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号:HAD-WSP-51
HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!
仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。
三、四探针测试仪基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻: 1.0×10-2 ~ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10 Ω
电 阻 率: 1.0×10-3~ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ~ 0.1 Ω-cm
方块电阻: 1.0×10-3 ~ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10 Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸(手持式)
直 径: 测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
长(或高)度: 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等级
量程 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 |
kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | |||
基本误差 | ±1%FSB±2LSB | ±1.5%FSB ±4LSB |
4) 适配器工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重:≤0.5kg