SII SFT9355型 X射线荧光镀层厚度测量仪 SII SFT9355型 X射线荧光镀层厚度测量仪

SII SFT9355型 X射线荧光镀层厚度测量仪

精工（SEA1000SⅡ、SEA1000A、SEA1000AⅡ、SEA1200VX、SEA6000VX，均能升级至测定卤素，膜厚仪SFT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）纳米科技有限公司,SFT9355系列产品,搭载了高性能X射线管，实现了高精度的测定。SFT9300M极微小准直管和可变焦距光学系统的组合，实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。

1．SFT9355搭载了75W高性能X射线管。

2．搭载标准的Φ50μm微小准直管（Z小Φ15μm）。

3．容易对微小领域进行观察。SFT9355搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。

4．依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。

5．SFT9355搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。

6．搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。

7．SFT9355利用伺服马达精确的驱动平台。