XT-50冲击试样缺口投影仪
一、 用途与特点：
该机是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，操作简便，检查对比直观、效率高，是目前*切实可行、并能保证检查质量的方法，是相关理化试验室的必备仪器。
二、 主要技术参数：
1. 放大倍数：50×；
2. 投影屏尺寸：ф200mm;
3. 工作台位移：纵向±10mm，横向±10mm，升降±12mm（无刻度）；
4. 工作台转动范围：0～360о（无刻度）；
5. 光源：卤钨灯12V 100W;
6. 电源：220V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸：515×224×603mm;
8. 重量： 约18kg。
