NAP8200 X射线荧光光谱仪,贵金属检测仪

详细功能： 
尺寸和重量：500 * 500 * 400mm/MAX：45公斤 
测试时间：30～200S 
分析元素：金，银，铂，钯，铑，钌，铜，锌，镍，镉等贵金属纯度分析检测 
分析范围：1％～99.99％ 
测试点尺寸：1～2毫米 
样品室尺寸：0～90毫米 
测试精度：+ / -0.1％的精度可以保持0.1％经过多次试验后， 
高压模板：4～50Kv 
X射线源：莫材料X射线光管（风冷，无辐射） 
功率：120W 
探测器：正比计数器处理器隐逸微 
包覆层测量：包覆层厚度范围<30μm.Eight循环系统的风扇，温度控制系统可以保护自己 

产品的独特性 ：

1.X射线荧光版本3.0菜单模式与参数设定，数据检查和计算英文和中文版都采用可 
2.测试时间是固定的程序以提高能力和效率，如果没有援助， 
3.自我保护技术能够提高X射线管的消费生活。热身和抗干扰过程控制程序，减少被反射的X射线和频谱，干扰增加的准确性和稳定性。 
4.可选颜色不同的元素，将有助于分辨清楚，方便感兴趣的元素。当测试结束后，检测报告将会显示及时。

应用领域：

黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

包装方式：

扎实的木箱和海绵泡沫保护，更好的让产品在运输途中安然无损