CT-3 日本电测 电解式膜厚计 CT-3 库仑测厚仪

日本电测 电解式膜厚计 CT-3 库仑测厚仪

规格参数：

1．测量范围：0.006～300 um

2．Z小分辩率：0.001 um

3．测量面积：3.4、2.4、1.7∮mm

4．速度：125、12.5、1.25nm/sec

5．测量单位：um、nm、二种

6．灵敏度调节：5段可调

7．体尺寸：200（W）*150（H）*150（D）mm

8．体重量：1.8kg

9．差可校正范围：±15％

10．电压：AC110V（220V）/50,60Hz

11.本机精度：1%

仪器特点：

      可测金属镀层：金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、 镉、锡、 铅、铜、钴、镍、铁、多重镍、黑铬

     可测合金镀层：锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金

产品优点:

1、各种镀层（多层、合金）的精密测量；

2、除平板形外，还可以通过提供的图表测量圆形、棒形（细线）等各种形状

3、可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层；

4、可制作非破坏式膜厚仪的标准板；

5、可检查非破坏式膜厚仪的测量精度;

6、Z新产品，精度提高，简单易懂，操作及保养容易。

7、标准板校正值的计算和设定可自动进行；

8、三档测量速度, 可以准确测量极薄镀层厚度

9、可分离测量铜（合金）上的锡（合金）镀层间的扩散（合金）层;

10、独特的测量台（电测公司）是利用条形弹簧方式,使操作方便简单