快速温度变化试验箱JW-TH-1000S-20 快速温度变化试验箱JW-TH-1000S-20

快速温度变化试验箱JW-TH-1000S-20 上海巨为快速温度变化箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在高低温或湿热环境下、检验其各性能项指标。

1. 产品优势 本公司拥有多位业界设计工程师，同欧洲技术合作多年的经验，故而产品具有节能.外型整洁.美观.性能稳定，可靠性高等优势。 企业的服务极具人性化: 其一：距客户端以200公里范围内（以4小时车程算）设有制造工厂及技术ZX，确保了解售前.售中.售后.服务的快速性及合理性； 其二：以零收费.终身制服务模式作为企业文化，并认真贯彻执行； 公司产品已在得到广泛认同，与众多世界前500强企业基本结为良好的合作关系，如 SANYO. SONY. CANON. PHILIPS. OKI. EPSON. PANASONIC. SAMSUNG. SIEMENS. NOKIA. ASUS. DELTA. MBALIB. HITACHI. ENET等；国内有北京电子部十一所 .北京铁道部科研院.北京空三所北京电子部十二所.航天部239厂.邮电部机检测ZX（北京）.ZG航天技术进出口公司.中科院广州能源研究所.石家庄电子十三所 .天津712厂.信息产业部厂. ZG人民解放军6916厂（河北） .武汉凡谷电子技术研究所.郑州邮电部设计院等 2. 试样说明 本试验设备禁止： 易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验及储存 腐蚀性物质试样的试验及储存 生物试样的试验或储存 强电磁发射源试样的试验及储存 3. 容积和尺寸 标称内容积 内箱尺寸 外型尺寸 1000L W 1000×H 1000×D 1000 mm W 1620×H 2050×D 1770 mm 4. 性能 4.1. 测试环境条件 4.2. 测试方法 设备四周气流畅通，无高浓度粉尘，无腐蚀性或易燃易爆性气体 环境温度为5～35℃ 相对湿度≤85%RH 循环冷却水温≤30℃ 循环冷却水供水压力为0.25～0.4MPa（风冷设备无此要求） 温度变化速率符合相关标准 4.2.1温度范围 -70℃～+180℃ 4.2.2温度波动度 ≤ ±0.5℃ 空载条件下，设备在稳定状态下，工作空间ZX点温度随时间的变化量，实测Z高温度与Z低温度之差的一半，以“±”表示，即温度波动度℃。 4.2.3温度均匀度 ≤ 2℃ 空载条件下，设备达到稳定后，每次测试中实测Z高温度与Z低温度之差的算术平均值，即温度均匀度。 4.2.4温度偏差 ≤ ±2.0℃ 空载条件下，设备ZX点在规定时间内测量的平均值与设备显示温度平均值之差，即温度偏差。 4.2.5温度变化速率 升温速率: -40℃ ~ +85℃ ≤6.25 min 升温平均：20℃/min 降温速率: +85℃ ~ -40℃ ≤6.25 min 降温平均：20℃/min 4.2.6湿度范围 湿度范围：30～90%RH （+25℃~+85℃） 4.2.7相对湿度偏差 ±2.5% R.H （≤75%R.H时湿度偏差：±5% R.H）

型号	JW-TH-80-60	JW-TH-150-30	JW-T-225-20	JW-TH-408-15	JW-TH-1000-10
容积(L)	80	150	225	408	1000
内尺寸cm(W*H*D)	40×50×40	50×60×50	50×75×60	100×100×800	100×100×100
温度范围	-70℃～+150℃

10℃/min快速温度变化试验箱，15℃/min快速温度变化试验箱，20℃/min快速温度变化试验箱，30℃/min快速温度变化试验箱，60℃/min快速温度变化试验箱销售热线：；；；周经理 王经理
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