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SQM160 膜厚监测仪

产品信息
SQM160使用可靠的INFICON石英晶体传感器技术测量薄膜沉积过程中的速率和膜厚。标准型为两个传感器输入,可选四个传感器输入,两个记录仪输出模似速率与膜厚讯号。
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