SiLi X-射线探测器（电致冷）
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产品库
应用领域：
ElSiX系统采用电致冷冷却，可用于X射线荧光分析仪、X射线双色层分析仪和X射线能谱仪，适用于液氮致冷方法无法或者禁止使用的领域。
全套系统：
l SiLi探头
l 压缩单元
l 连接煤气管道
特点：
l 无液氮冷却
l 高能量分辨率
l 薄铍窗
l 任何空间方位的检测
l 断电后自动重启
l 长期持续功能
l 设计紧凑重量轻
l 技术参数
技术规格：
| 技术参数 | 数值 |
| 能量范围（keV） | 1 - 60 |
| 探头灵敏面积（ mm2 ） | 20 * |
| 能量分辨率为 5.9 keV（ eV ） 16 μs的成峰时间 1 μs的成峰时间 记数率为105 cps，成峰时间1 μs |
138 268 275 |
| 峰/本底的比率 | > 4000 |
| 冷却时间（h） | 3 |
| 环境温度（°С） | -5 to +38 |
| 工作模式 | 持续测量 |
| 探头方位空间的限制 | 任意 |
| 电压（V ）/ 频率（Hz） | 200 / 50-60 |
| 电源（W ） | < 60 |
| 尺寸（mm）: 检测单元 压缩单元 |
80x135x150 140x160x300 |
| 重量（ kg） 检测单元 压缩单元 |
1.8 7.5 |
*可订制不同灵敏面积的探测器。
