IM3523 日本日置 IM3523 LCR测试仪_详细资料

品牌	其他品牌	产地类别	进口
应用领域	电子/电气/通讯/半导体

品牌

其他品牌

产地类别

进口

应用领域

电子/电气/通讯/半导体

测量模式	LCR,连续测试
测量参数	Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程	100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程	Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为分辩率时的显示位数）只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率	40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
测量信号电平	正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
输出阻抗	正常模式：100Ω
显示	单色LCD
测量时间	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能
接口	EXT I/O(处理器)，USB通信(高速) 选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源	100～240V AC，50/60Hz，50VA
尺寸及重量	260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件	电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

测量模式

LCR,连续测试

测量参数

Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q

测量量程

100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)

可显示量程

Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为分辩率时的显示位数）
只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999)
Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)

基本精度

Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°

测量频率

40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)

测量信号电平

正常模式
V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA～50mArms,10μArms

输出阻抗

正常模式：100Ω

显示

单色LCD

测量时间

2ms(1kHz,FAST,代表值)