GDSKDT-4 GDSKDT-4红宝石探针头（四探针电阻率测试仪配件） B级(间距：1.59mm)
- 型号：GDSKDT-4
- 产地：北京
- 供应商：北京中慧天诚科技公司
- 供应商报价： 1.00￥
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| 红宝石探针头（四探针电阻率测试仪配件） B级(间距：1.59mm) 型号：GDSKDT-4 | 货号：ZH447 |
| 一、特点 1、 使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。 2、 控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，保证探针的小游移率。 3、 采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力。 4、 量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。 二、用途 1、 测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率，测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻。 2、 测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。 三、探针间距 1、 直线四探针…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm 2、 方形四探针…………… 1.00mm 3、 直线三探针…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm 4、 两探针 …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm 四、技术指标 1、 游移率 B级…………… ＜0.5% A级……………＜0.3% AA级………… ＜0.2% AAA级…………＜0.1% 2、 间距偏差 B级…………… ＜3% A级…………… ＜2% AA级………… ＜2% AAA级………… ＜1% 3、 Z大针与导孔间隙：0.006mm 4、 探针材料：硬质合金（主成份：进口碳化钨）或高速钢 5、 探针压力 标准压力：6—10N（4根针总压力） 小压力：1.2—5N（4根针总压力） 1牛顿（N）=101.97克 6、 针尖压痕直径：25—100μｍ、100—250μｍ（簿层） 7、 500V绝缘电阻：＞1000MΩ www.centrwin.com www.ghitest.com |  |
