SY.29-WDI 硅片缺陷观测仪/太阳能研究用数码金相显微镜（不含偏光+单色+微分）

硅片缺陷观测仪/太阳能研究用数码金相显微镜（不含偏光+单色+微分） 概述：

硅片缺陷观测仪/太阳能研究用数码金相显微镜（不含偏光+单色+微分） 于对硅片的缺陷进行观察，效果非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等。

实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果；

特点：

■ 适用于对硅片的缺陷观察效果，非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等；

■ 使硅片缺陷观察工作简单化，准确化，同时极大程度降低此项工作强度；

■ 实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果；

■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有体积小，技术先进，像素较高， 成像清晰 、线条细腻、色彩丰富；

■ 传输接口为 USB2.0 高速接口， 软件模块化设计 ；

■ 有效分辨率为 200 万像素；

■ 所配软件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系统。