激光粒度仪/激光粒度分布仪测试系统 型K.D4 沐经理 1821033...
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- 标签：激光粒度仪/激光粒度分布仪测试系统 型K.D4 沐经理 18210331153,-1,北京卓乐康科技有限公司
产品库
一、仪器介绍
ZLK.D4型激光粒度分布仪系统是集光、机、电、计算机为一体的高科技产品，它采用
进口半导体激光器，寿命长，单色性好；先进的机械设计与加工工艺和微电子集成电路技术；
高灵敏度的光电池接收系统，全程米氏理论作为基础，结合优异的计算方法。使测试数据更
加精确，快捷；是目前国内比较经济实用的一款激光粒度分布仪。
| 二、技术参数 | |
| 测试范围：0.1μm～500μm 光 源：半导体激光器（波长635 nm.功率3mw.使用寿命25000小时以上） 测试方式：湿法测试 样品浓度：0.5‰～1%（与样品的比重、颗粒大小、折射率有关） 测试时间：少于1分钟/次，不含样品分散时间 扫描速度：2000次/秒 重复性误差：≦1% 电源：交流220V±10%50Hz或60Hz，功率：80W 微机接口：标准 RS-232串行接口 操作系统：可在Windows所有版本的操作系统下运行 |
| 二、技术参数 | |
| 测试范围：0.1μm～500μm 光 源：半导体激光器（波长635 nm.功率3mw.使用寿命25000小时以上） 测试方式：湿法测试 样品浓度：0.5‰～1%（与样品的比重、颗粒大小、折射率有关） 测试时间：少于1分钟/次，不含样品分散时间 扫描速度：2000次/秒 重复性误差：≦1% 电源：交流220V±10%50Hz或60Hz，功率：80W 微机接口：标准 RS-232串行接口 操作系统：可在Windows所有版本的操作系统下运行 |
| 二、技术参数 | |
| 测试范围：0.1μm～500μm 光 源：半导体激光器（波长635 nm.功率3mw.使用寿命25000小时以上） 测试方式：湿法测试 样品浓度：0.5‰～1%（与样品的比重、颗粒大小、折射率有关） 测试时间：少于1分钟/次，不含样品分散时间 扫描速度：2000次/秒 重复性误差：≦1% 电源：交流220V±10%50Hz或60Hz，功率：80W 微机接口：标准 RS-232串行接口 操作系统：可在Windows所有版本的操作系统下运行 |
测试范围：0.1μm～500μm
光 源：半导体激光器（波长635 nm.功率3mw.使用寿命25000小时以上）
测试方式：湿法测试
样品浓度：0.5‰～1%（与样品的比重、颗粒大小、折射率有关）
测试时间：少于1分钟/次，不含样品分散时间
扫描速度：2000次/秒
重复性误差：≦1%
电源：交流220V±10%50Hz或60Hz，功率：80W
微机接口：标准 RS-232串行接口
操作系统：可在Windows所有版本的操作系统下运行
优化的反傅立叶光学变换设计,结合独特的光路一体化结构，使光路更加稳定，长期使用，无须调整；先进的机械设 计与加工工艺，使仪器的结构更紧凑合理;流线型的设计，美观大方，使用与维护更为方便；有效的屏蔽与抗干扰技术， 使仪器的电气等性能更加稳定 。 （4）高灵敏大角度光电接收器阵列 独特的光电接收器阵列设计，有效提高了仪器的分辨率。主向光电接收器，共有71个光电池,Z大探测角达21.5°； 非均匀交叉排列的侧向光电接收器,共5个光电池，其中，Z大侧向角度达75°。
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