CHY-C2 双向拉伸聚丙烯珠光膜厚度测试仪

CHY-C2薄膜测厚仪
薄膜测厚仪产品名称：测厚仪，薄膜测厚仪，纸张测厚仪，机械接触式薄膜测厚仪
薄膜测厚仪价格：优惠促销，咨询！
薄膜测厚仪产品用途：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
薄膜测厚仪产品特点：
1. 接触式测量
2. 测头自动升降
3. 手动、自动双重测量模式
4. 数据实时显示、自动统计、打印
5. 显示Z大值、Z小值、平均值和统计偏差
6. 标准接触面积、测量压力（非标可选）
7. 标准量块标定
薄膜测厚仪技术参数：
1. 负荷量程：0～2 mm（常规）；0～6 mm；12 mm（可选）
2. 分辨率：0.1 μm
3. 测量速度：10 次/min （可调）
4. 测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
5. 接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
      注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
薄膜测厚仪标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
薄膜测厚仪依据标准：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
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