产品库
登录
首页 找仪器 社区 百科 新品 供应商 品牌 应用 资料 仪企号 展会 标准 求购 招中标

COSMOS-2X 荧光X线膜厚计 测厚仪

产品信息

COSMOS-2X 荧光X线膜厚计 测厚仪

 

COSMOS-2X
 
产品特点
 
 
    COSMOS-2X 规格表
    1. X线源：油浸式由上而下垂直照射方式。
    2. 检出器：比例计数管。
    3. 滤波器：采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器，可单一或同时使用。
    4. 准直仪：采用五种孔径一体成型式，可自动切换使用。
    5. 样品观测系统：彩色CCD及高画质显示屏。
    6. 多能谱分析器：256高频分析器，光谱自动分析。
    7. 测量项目：单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析.
    8. 测量范围：原子序22 ~ 82 ， Z小量测值0.05um.
    9. 测量机能：同一点重复测定机能，输出形式设定，能谱测定.
    10. 底材补正功能：当样品与标准片的底材不同时，可作底材补正。
    11. 本机俱有自动安全断电系统功能.
    12. 由锁匙开关来控制X 线输出，以防止外人任意操作.
    13. 测量部主机尺寸：362（W） ×425（D） ×521（H） ㎜.
    14. 测量台尺寸尺寸：170 （W） ×100 （D） ㎜
    15. 移动量（X-Y-Z轴）：70 ×70 ×80 ㎜.
    16. 使用电源：电压: AC100V/220V ±10V ； 50/60Hz
   
 
适用范围
 
 

 

信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（深圳市鑫欧野仪器有限公司），内容包括 （COSMOS-2X 荧光X线膜厚计 测厚仪）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （COSMOS-2X 荧光X线膜厚计 测厚仪）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
供应商产品推荐
    您可能感兴趣的产品