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3541 日本日置(HIOKI)3541电阻测试仪

产品信息
日本日置(HIOKI)3541电阻测试仪3541电阻测试仪:广范围测量 Z低0.1μΩ(20.00mΩ),Z高110MΩ,快速采样,快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异),补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能,运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计,具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可达到印字功能。日本日置(HIOKI)3541电阻测试仪基本参数:

测量电流

20mΩ(Z大显示20.0000mΩ, 分辨率0.1μΩ)~100MΩ量程(Z大显示110.000MΩ,分辨率1kΩ),11档切换
[Low Power ON] 2Ω(Z大显示2.00000Ω,分辨率10μΩ)~2kΩ量程(Z大显示2.00000kΩ,分辨率10mΩ),4档切换

测量精度

(SLOW2± 0.007% rdg. ±0.0015%dgt.(2k/20kΩ)
[Low Power ON]: ± 0.011% rdg. ±0.01%dgt.(22kΩ)

测量电流

DC 1A100nA, [Low Power ON]: DC 10m10μA

开路端子电压

DC 5V(20/200m), 2.6V(220k), 13V(1M100M),[Low Power ON]: 60mV

采样速度

 

快速

中速

低速 1

低速 2

50Hz

0.6ms ± 0.3ms

21ms ± 1ms

155ms ± 5ms

455ms ± 10ms

60Hz

0.6ms ± 0.3ms

17ms ± 1ms

149ms ± 5ms

449ms ± 10ms

应答时间(纯电阻时):上记采样时间+1ms(根据设定内容、试料的不同,会有差异)

其它功能

温度测量(-10.0~99.9 °C ),温度补偿阻抗值换算,卷线温度上升值换算,比较功能,多可储存装填30种设定条件,分类(BIN)测量(10分类)统计运算补偿偏置电压,迟延 平均

数子输入/输出

输出: BCD, 测量结束,比测仪结果, BIN结果, NG/开放连接器输入设定条件选择触发校准, 0ADJ,印刷 /C-MOS

供应电源

AC 100240V, 50/60Hz, 30VA max.

体积于重量

215宽 × 80高 × 295mm, 2.6kg

附件

夹型测试线 9287× 1, 温度探头 9451× 1, 电源线× 1,保险丝× 1, EXT I/O用插入式连接器× 1

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