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半自动硅片厚度TTV测试仪

产品信息

 

特征
■适用于硅片等各种材料的厚度TTV精确测量
■测量范围：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微电脑控制、液晶显示
■菜单式界面、PVC面板操作
■接触式测量
■测头自动升降
■手动、自动双重测量模式
■数据实时显示、自动统计
■显示厚度、TTV、平均值和统计偏差
■电源：AC 220V 50Hz
 
 
信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（北京合能阳光新能源技术有限公司），内容包括 （半自动硅片厚度TTV测试仪）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （半自动硅片厚度TTV测试仪）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
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