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布鲁克(原Veeco)SPM 原子力显微镜AFM Dimension Icon

产品信息

 

基本性能

●     传感器设计实现了与开环噪音水平一样的闭环性能,用于大型样品前所未见的分辨率测试和针尖扫描AFM

●     显著减小基底噪音,能够在接触模式下以原子力水平成像,TappingMode™中少于30pm

●     漂移率小于每分钟200pm,产生无扭曲图像

优越的生产率

●     综合反馈对准工具带来快速优化的探针配置

●     高分辨率相机和X-Y配置带来快速GX的样品导航性能

●     新型ScanAsyst成像和带有默认试验模式的NanoScope®软件,将十年的知识精华融入这个预先配置设置中

的多功能性

针尖和样品的开放性入口,可进行大量的标准

性和定制性实验

●     仪器和软件设计利用了所有当今和未来新进的先进的模式和技术

●     用户实用程序脚本提供了半自动测量和分析性能

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