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OmniScan iX UT OmniScan iX UT*声波探伤仪

产品信息

*声波探伤的主要特性  

(1)*声波在介质中传播时,在不同质界面上具有反射的特性,*声波探伤如遇到缺陷,缺陷的尺寸等于或大于*声波波长时,则*声波在缺陷上反射回来,探伤仪可将反射波显示出来;如缺陷的尺寸甚至小于波长时,声波将绕过射线而不能反射;  

(2)波声的方向性好,频率越高,方向性越好,以很窄的波束向介质中辐射,*声波探伤易于确定缺陷的位置. 

*声波探伤*声波的传播能量大,如频率为1MHZ(100赫兹)的*生波所传播的能量,相当于振幅相同而频率为1000HZ(赫兹)的声波的100万倍。 

产品名称:OmniScan iX UT*声波探伤仪

产品型号:OmniScan iX UT

产品概述:

OmniScan® iX是一款专门为高速检测关键性工业部件而设计的工业*声探伤仪。袖珍型OmniScan iX仪器的外壳非常坚固,既有台式机型,又有架式机型。架式机型还可装上转动支架组件,以便能将仪器安装到生产系统中。

技术参数:

扫描范围

0~10000mm钢纵波

   工作频率

0.4MHz~20MHz

 垂直线性误差

≤3%

 水平线性误差

≤0.1%

  灵敏度余量

>62dB(深200mmΦ2平底孔)

  分辨力

>40dB(5N14)

  动态范围

≥32dB

  噪声电平:

<8%

  硬采样频率

150MHz

 重复发射频率

100~1000HZ

  声速范围

100~20000(m/s)

工作方式

单晶探伤、双晶探伤、穿透探伤

  工作时间

连续工作8小时以上(锂电池)

  环境温度

(-20~70)℃(参考值)

  相对湿度

(20~95)% RH

  外型尺寸

240×180×50(mm)

    

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