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固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪 固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪

产品信息

固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪

GUT-6000A数位IC测试仪特性：
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
Z大可测 Pin 数 : 28 Pin

GUT-6000A数位IC测试仪技术参数

 

测试范围

54/74 系列 TTL 及高速 CMOS

4000 及 4500 系列 CMOS

55 及 75 系列 TTL

量测种类

约 1800 种

测试电压

5V DC

测试时间

高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC

使用电源

交流 110V/220V +10%, 50/60Hz

附件

电源线 x 1, 操作手册 x 1

尺寸及重量

335（宽） x 105（高） x 300（长） mm, 约 1.5 公斤

固纬IC测试仪选型表

 

机    种  

主要功能或用途

GUT - 6000C

数位IC测试器

GUT - 6600

掌上型数位IC测试器

GUT - 6001

类比IC测试器

信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（深圳市时代之峰科技有限公司），内容包括 （固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪 固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪 固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试仪）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
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