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日本日置HIOKI 3504-60电容测试仪 日本日置HIOKI 3504-60电容测试仪

产品信息
日本日置HIOKI 3504-60电容测试仪,HIOKI 3504-60 C测试仪

C测试仪 3504-60 3504-50/ 3504-40

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

  • 高速测量2ms
  • 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
  • 对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
  • 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
  • 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
  • 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

HIOKI 3504-60电容测试仪输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

HIOKI 3504-60电容测试仪基本参数

 

测量参数Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本确度(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数
测量频率120Hz, 1kHz
测量信号电平恒定电压模式: 100mV (3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻5Ω(开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示发光二级管 (6行表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能4端子控制检测功能(3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-CYZ功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)
电源AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, Z大110VA
体积及重量260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件电源线×1,预备电源保险丝×1,接地适配器×1

HIOKI 3504-60电容测试仪(不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)

SMD测试冶具 9699
底部 SMD电极
操作频率:DC~120MHz
测量对象尺寸:W:1.0~4.0mm H:1.5mm
SMD测试冶具 9677
侧面 SMD 电极
操作频率:DC~120MHz
测量对象尺寸:3.5±0.5mm
SMD测试冶具 9263
DC~5 MHz, 直结型
测试冶具 9262
DC~5 MHz, 直结型
测试冶具 9261
DC~5 MHz, 1 m
针型测试探头 9143
DC~5 MHz, 1 m
4端子测试探头 9140
DC~100 kHz, 1 m
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