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xMark™ 微孔板吸光度分光光度计

产品信息

 

xMark™ 微孔板吸光度分光光度计
使用 Microplate Manager®软件,xMark 分光光度计可以执行范围广泛的终点和动力学应用,在从低紫外到红外的波长内进行光谱扫描。全面数据分析包括综合曲线拟合模型和采用单板或批次格式的自动数据导出。优点包括:
·   在进行光度测定阅读时,基于单色仪的系统可实现Z佳光学效率和Z大灵活性
·   提供可定义检测的Z佳吸收波长的光谱扫描
·   单孔或整板中像素强度数据的成像功能
·   能够扫描定制的板
·   PC Mac 软件的灵活控制和数据分析
·   具有可编程温度控制的培养器
xMark™ 微孔板吸光度分光光度计
技术指示

光学的
 
波长范围
200–1,000 纳米
光度计方法
单波长和双波长
单色仪步长
1 nm
带宽
5 nm
波长精度,Z低
±2.0 nm
波长可重复性
±0.2 nm
成像分辨率
0.5、0.75、1.0 mm
性能
 
指示范围
0–4.0 OD
分辨率
0.001 OD
线性
≤2.0%,0–3.0 OD(405 nm 处)
准确度
±1.0% 或 0.015,0–3.0 OD
可重复性
96 孔板;≤1.0% 或 0.005,在 405 nm 时为 0–3.0 OD
稳定性和漂移
≤0.010,OD = 1 时,490 nm 处
读取时间
8 秒/96 孔/单波长;15 秒/384 孔/单波长;35 秒/1,536 孔/单波长
物理的
 
兼容的反应板
6 到 1,536 孔微孔板和定制微孔板
Z大板高度
21 mm
 
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