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DS-AT256 全品种集成电路测试仪

产品信息
测试适用范围: 元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹)  测试原理(v-i曲线测试): 对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。  集成电路测试操作如此简单: 1.从数据库选择要测试的集成电路型号.2.将集成电路插入测试座.3.执行测试4.得到PASS或FAIL的测试结果.
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