EDX630- 无卤素分析仪

[技术参数]
     探测器：      进口半导体探测器，分辨率达139eV
     X光管：       钨（W）靶，Z大电压50kV，Z大电流1mA
                           使用寿命长达5万小时
     高压电源：  精密X射线专用电源，Z高输出电压50kV
                           稳定度每8小时小于0.05%
     滤光片：      6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰
     准直器：      直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换
                           免去人工操作烦恼
     对焦系统：  旋钮视觉对焦
     样品腔：     大气
     样品观察： 高清晰彩色CCD射线头
     X射线防护： 三重X射线防护（样品腔、机壳、程序控制），
                          低于GB16355-1996防辐射标准
     输入电压：  AC 220V/50HZ
    功耗：           260W
    样品腔尺寸： 660×400×135mm
    外型尺寸：  680×460×475mm
    重量：         40Kg

[性能指标]
    可测元素：         硫（S）－铀（U）
    同时可测元素： 36种
    分析物质状态： 固态、粉末、液体
    含量分析范围： 0.0002～
    含量检出限：     2ppm
    含量相对误差： 5～10%
    可测镀层：         Z多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
    精度：                 Z高可达0.01um
    厚度相对误差： 单层5%，多层10%
    Z小测量直径： 2mm
    分析时间：         60～300S

[功能特点]
    采用进口的Z新型探测器，对超低含量的元素都能探测；
    自动安全的高压防护电路设计；
     *的光路系统，增大X射线强度，减少散射背景；
    专门针对RoHS、无卤素、八大重金属等环保指令有害元素的优化；
    紧密封闭的腔体设计、电路控制、机械控制三重X射线防护；
    灵活JZ的分析软件，既可进行简单、快速的物质测试，满足工业化生产需求，也
    可通过科学的参数配置满足复杂、高精度的元素分析；
    采用了国际Z先进、复杂的X荧光分析算法，比任何同类软件都要适应各种复杂、多
    样的物质分析，解决了传统X荧光分析必须依赖相同基体标样局限；
    对分析样品的状态、形状、大小自动进行校正，减少因制样不足而带来的误差。