OPT-W-LT-M 少子寿命检测系统，少子寿命测试

品Pai：欧普泰
型号：OPT-W-LT-M 
用途：对硅片的少子寿命检测
           OPT-W-LT-M（硅片少子寿命测试系统） 
 上海欧普泰科技创业有限公司是一家高科技企业,公司以上海交通大学、华东师范大学为技术依托,走产学研相结合的道路,进行多种市场迫切需求的太阳能光伏板故障诊断高科技产品研发与生产,已成功开发硅片PL,组件EL测试仪,电池串EL,组件测试仪,EL测试仪，PL检测仪，PL检测，PL测试，EL测试，红外测试，硅片透射面阵测试系统,硅片透射线测试系统,硅片几何尺寸测试系统,硅片少子寿命测试系统,硅片边缘缺陷测试系统,硅片线痕测试系统,硅片全自动分选系统等产品,其中有产品己经获得上海市科技成果转化项目。
根据市场需求，我们设计研发生产的整个太阳能生产工艺流程中硅片、电池片、电池组件的各种外观和内部缺陷检测的系列检测设备性能处于国际领先水平，并己广泛地应用于国际的太阳能光伏龙头企业。相关产品己经获得上海市科技成果转化项目。  
OPT-W-LT-M硅片少子寿命测试系统包括：LT测试模组、传送模组和自动分析系统模组；基于微波光电导衰减法的测试原理，提供单点、无损伤的重金属沾污检测。
    主要特点：
       ● 在线测试点数：3点
       ● 测试类别：硅片
       ● 测试范围：0.1μs~1000μs
       ● 传送带高度：260mm