XY-XYS-III 透反射比测试系统 测试系统
- 品牌：恒奥德
- 型号：XY-XYS-III
- 产地：北京恒奥德
- 供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司
- 供应商报价：面议
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透反射比测试系统 测试系统 型号：XY-XYS-III
透反射比测试系统是新一代积分式透射比和反射比快速测试系统。该系统采用高稳定度照明光源及高精度光度传感器，可用于A光源或D65条件下被测物体的透射比或反射比测试。该测试系统测量精度高，速度快，可用于各种光学镜头、滤光片、光学玻璃等在A光源或D65条件下的透反射比的快速测量。
XY-XYS-III型透反射比测试系统包括XY-XYS-III透反射比测试系统，XY-XYP-III高精度直流稳流电源及透射比反射比测试箱三部分。
特点:
采用高稳定度照明光源和高精度光度传感器
适用于A光源或D65两种照明条件
可以实现快速测量
应用：
各种光学镜头、滤光片、光学玻璃等在A光源或D65条件下的透反射比。
技术指标:
标准照明体：A光源/D65
V（λ）传感器光谱响应达国家一级标准
准直照明，积分球接收，Φ=80mm
测量范围： 0～
测量精度：±0.1%
稳定性： ±0.1%
显示：3-1/2位LED数码管显示
保修期:1年
随机附件：电源线和说明书
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