HAD-FD-TM 温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪

温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪     型号；HAD-FD-TM
对温度传感器性能的了解及测试是大学物理实验的一项必备内容，但大多数实验仪器只具备做环境温度以上的实验， HAD-FD-TM温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪具备了半导体致冷功能，使之能做环境温度以下的实验。本仪器主要测试温度传感器AD590的性能(可根据要求增加多种温度传感器的测试)及了解半导体致冷堆的性能。
　　仪器主要由以下部分组成：
　　1．TCF708控温仪
　　2．四位半数字电压表（0-2V）
　　3．加热井和致冷井装置
　　4．AD590实验系统
　　应用该仪器可以完成以下实验：
　　1．学习半导体制冷的原理。
　　2．测量电流型温度传感器AD590的特性。
　　3．学习智能温度调节仪控温的原理及调节方法。
　　仪器主要技术参数：
　　1．加热范围 环境温度－120℃
　　2．致冷范围 环境温度－低于环境温度30℃
　　3．控温精度 0.1℃
　　4．测温精度 ±3%