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ZH9912 ZH9912电子薄膜应力分布测试仪

产品信息
电子薄膜应力分布测试仪

型号:ZH9912
 
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该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多,能给出全场面型分布结果,适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。

仪器基于干涉计量的全场测试原理,可实时观测面型的分布,迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置,及时淘汰早期失效产品。

产品特点

国际SC的错位相移技术

计算机自动条纹处理

测试过程全自动

先进的曲面补偿测试原理

技术指标

Z大样品尺寸:≤100mm (4英寸)

曲率范围:|R|≥5米

测试精度:5%

单片测量时间:3分钟/片

结果类型:面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格

图形显示功能:三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示

电    源:AC 220V±10%, 50Hz±5%

Z大功耗:100W

外型尺寸:(L×W×H) 285mm×680mm×450mm

重    量:36kg

 www.centrwin.com

www.ghitest.com




 
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