WD-QUJ 漆膜测厚仪 漆膜测厚仪 漆膜测厚仪

漆膜测厚仪  漆膜测厚仪  漆膜测厚仪  WD-QUJ
依据GB/T 13452.2-92、ISO 2808-1984设计制造。是利用千分表刻度盘指示被测物的厚度以µm表示。
适用于测量磁性、非磁性物体上涂层膜层厚度。漆膜必须硬到足以经受住与千分尺卡头紧密接触时而无压痕。
设备仪器：
(1) 测厚仪：精度达到2µm，重复性高
(2) 千分表每年需经省市一级法定计量部门鉴定。