CH-12.7-STSX数显千分测厚仪 CH-12.7-STSX数显千分薄膜薄片测厚仪
- 型号:CH-12.7-STSX数显千分测厚仪
- 产地:江苏 南京市
- 供应商:南京山特仪器有限公司
- 供应商报价: 电议
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名 称: | 千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪 |
分 度 值: | 0.001mm |
测量范围与准确度: | 0mm~12.7mm ≤0.005mm |
主要用途: | 适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(Z大测量深度为80mm) |
执行标准: | GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979 |