TDmu-I 放射性污染测量仪

放射性污染测量仪/核辐射污染检测仪 型号：TDmu-I

适用性  

     TDmu-I放射性表面污染测量仪采用半导体探测器，适用于低水平α、β辐射表面污染 检测和环境X、γ辐射监测。具有良好的探测效率、较高的可靠性和方便的操作特性。精巧的设计使同一探头能同时区分测量α、β粒子，并可即时用于环境X、γ 辐射剂量水平测量。该仪器采用单片机控制，可连续进行测量数据的记录存储，并由计算机通讯获取。该设备可用于环境放射性监测、核医学、核电站、核燃料生 产、运输、储存和商检等诸多领域。仪器控制功能还有：本底测量定时选择、污染测量定时选择、报警阈值设置、数据通讯选择、声音控制、背光控制、模拟条码显 示、电池欠压指示等。 

▉主要技术指标 

探测器●半导体探测器

探头灵敏窗面积●Ia型3.14cm2和Ib型19.6cm2可选; 

探头端口边缘至灵敏窗Z小距离●4.5mm; 

探头窗铝膜质量厚度●＜1.1mg/ cm2; 

仪器效率●ηα≥24%（239Pu，距窗表面4.5mm ）；ηβ≥30%

仪器本底●Ia型：α＜0.5cpm; β≤20 cpm；

●Ib型: α＜3cpm; β≤100 cpm；

计数量程●α、β计数率0.1～99999cpm； 

X、γ辐射测量范围●0.01μSv/h～100mSv/h,相对误差：≤±15%；

报警设置●α：1～200cpm，β：20～2000cpm，步长1，连续可调；

电 源●内置可充电锂电池，一次充电可持续工作时间≥7天；

工作环境特性●温度-20℃～50℃，相对湿度RH≤90%（@30℃）；

尺寸/重 量<●主机：190×93×48;探头：Φ33×150；总重：730g。