M-2型手持式数字式四探针测试仪由主机和选配的四探针探头组成，也可以选配测试台，是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
M-2型手持式数字式四探针测试仪技术参数：
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω
电 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
方块电阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定
直 径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。
SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.
测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等级
量程（Ω-cm/□） |
9.999 |
99.99 |
999.9 |
9999. |
电阻测试范围 |
0.010～9.999 |
9.99～99.99 |
99.99～999.9 |
999.9～9999 |
电阻率/方阻 |
0.010/0.050～9.999 |
9.99～99.99 |
99.99～999.9 |
999.9～2000 |
基本误差 |
±1%FSB±2LSB |
±2%FSB±2LSB |
4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重：≤0.5kg
M-2型手持式数字式四探针测试仪探头选配：
1.球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻；
2.高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
3.换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量；
4.配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
技术特点：
仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；
全自动转换量程；
具有零位、满度自校功能；
自动转换量程。测试结果由数字表头直接显示；
采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
适用场所：
适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
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