ZM10x 激光扫描测径仪ZM10x测透明薄膜的厚度

激光扫描测径仪ZM10测透明薄膜的厚度
客户需求：测透明薄膜的厚度
量程：1-3mm
测量方案：采用激光扫描测径仪激光扫描测径仪ZM10激光测径仪检测：将薄膜套在标准轴上，通过测标准轴和套薄膜的标准轴的直径，间接检测薄膜的厚度。精度5um.。
检测方法如图所示：
应用领域
可用于物体尺寸的非接触测量与控制，如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等。有效降低了生产后的单件检验成本，并能有效节省原物料的损耗，降低人员需求。
主要特点
高精度：Z高线性度5um；
量程范围广：可测500mm外径的物体（可根据实际情况定制更大外径型号）；
支持多个传感器同步采集（确保工业在线高精度差动测厚）；
可以对操作系统实施不同的参数设置，改变测量方式；
在PC上十分直观的显示出测量值，方便对测量过程实施监控；
采用半导体激光器发射的激光（波长660nm）作为探测信号，抗干扰能力强；
系统带有额外的四条输出信号，带负载能力强；
详情请访问：英国真尚有集团
深圳市真尚有科技有限公司
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