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DL07-S20A OTDR 美国信维S20A OTDR/光时域反射仪

产品信息
美国信维S20A OTDR/光时域反射仪型号:DL07-S20A OTDR
Ø  全面应用:单/多模应用可选
Ø  灵活的动态范围选择:24/32/38dB不同配置,轻松匹配各种客户需求
Ø  快速启动,测试速度业界领先
Ø  独特的热键设计模式:按键操作集成热键功能,快捷定位及分析事件点
Ø  TraceManager软件:轻松实现批量编辑、打印,以及单页多迹线打印功能
Ø  配置可见光源:可迅速定位网络中宏弯、光跳线、跳线板、配线架、接头处的故障
Ø  优化的供电设计:确保内置的NiMH充电电池,一次充电可支持8小时测量
Ø  掌上型,轻巧便携:仅重1kg (2.2 lbs)
Ø  安全、坚固:通过CE安全及2米坠落测试,使用安心
        ShinewayTech® palmOTDR/N系列掌上型光时域反射仪是一款独具匠心的光纤线路寻障分析产品,为光纤通信网测试提供了一种全新的应用方式,其稳定性和惊人的性价比在广受瞩目。
其与传统OTDR相比,尺寸更加小巧,操作更为简洁,独特的热键功能使事件的浏览和分析更加快捷;功能齐全,全面满足单模 (1310nm/1550nm)、多模(850/1300nm)光纤测试应用需求,支持平均/实时双测量模式;其多功能背包亦充分考虑到了野外作业和实验室测试的操作方便,可充分满足不同用户和各种现场测试需求,使其成为目前发展迅速的农话网、城域网和FTTx光纤施工、认证、例检、抢修和维护中的工具。
另外,其强大的内部存储能力,可与随机配带的迹线管理软件——TraceManager通信,实现测量结果的后期分析处理、存档及打印;其可互换光接头设计,满足了多种连接器类型的应用需求。
开机启动时间小于5秒
        palmOTDR/N系列的开机时间非常短,从开启电源到进入界面并启动测试只需要不到5秒的时间,用户无需等待更长时间。
性能参数

型号(1)


palmOTDR


S20A/N


S20B/N


S20C/N


M20A/N


动态范围(dB)(2)


24/24


32/32


38/37


18/22


光纤类型


单模


多模


波长(±20nm)


1310/1550


850/1300


显示屏类型


TFT纯彩


光源类型


LD


光接口


FC/PC(可互换SC, ST)


测试范围(Km)(3)


0.31.32.5510204080120160240


0.10.30.51.32.5510@850nm;


0.10.30.51.32.5510204080@1300nm


脉宽(4)


5ns10ns12ns30ns100ns275ns300ns1μs2.5μs10μs20μs


12ns30ns100ns275ns1μs@850nm;


12ns30ns100ns275ns1μs2.5μs@1300nm


测量时间


15s30s1min2min3min


衰减盲区


25m(5)


15m(5)


20m(6)


事件盲区


10m(5)


3m(5)


7m(6)


测距精度


±(1 m + 5×10-5×距离+取样间距)


衰减测量精度


±0.05 dB/ dB


反射测量精度


±4 dB


数据存储


300条测试曲线


通信接口


RS-232/USB


可见光源(该功能仅palmOTDR-S20B/NC/N型具有)


输出功率(dBm)


 ≥-3


测试距离(km)


5


其他参数


供电方式


双路供电:NiMH充电电池/ AC适配器


电池工作时间


一次充电后:连续操作≥8小时;待机时间≥20小时


工作温度


0 ~ 50


保存温度


-20 ~ 70


相对湿度


0~95%无结露


    


1kg (2.2 lbs)


体积(H×W×T)


220×110×70mm  (8.7×4.3×2.7 inch)

注释:
(1)技术指标描述了用典型PC型连接器进行测量时仪器的保证性能。不考虑由于光纤折射率导致的不确定度;
(2)动?段窃谧畲舐龀蹇矶取⑵骄奔?3分钟条件下测得;
(3)距离范围中160Km档和240Km档只对本仪表的B/N、C/N型有效;120Km档只对本仪表的A/N型有效;
(4)脉宽中5ns、10ns、300ns、10us档和20us档只对本仪表的B/N、C/N型有效;12ns和275ns档只对本仪表的A/N型有效;
(5)盲区测量条件:对A/N型,反射事件在2.1Km处,反射强度<-35dB,用30ns脉宽进行测量;对B/N、C/N型,反射事件在0.6Km处,反射强度<-45dB,事件盲区用10ns脉宽进行测量,衰减盲区用30ns脉宽进行测量;
(6)盲区测量条件:反射事件在1Km处,反射强度<-32dB,用12ns脉宽进行测量。
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