美国FEI电镜Teneo 扫描电子显微镜

Teneo

超高分辨率成像和高通量分析性能。

FEI 的 Teneo SEM 可为金属研究人员、学术和工业研究机构提供超高分辨率成像和极高通量分析性能。

检测领域的一场变革 - 独特的 TrinityTM 检测方法能够对Z广泛的样本提供极高对比度，从而使得成像速度极快并令图像易于解释。通过与标准室型检测器同步运行的三个单独的镜头内检测器，可从各个角度执行同步检测，从而节省时间、提供Z多信息并防止样本污染和受损。

Teneo 材料科学应用

新的 Teneo SEM 可对金属、复合材料和涂层等多种材料进行检测，并且整合了创新功能，可提高通量、精度和易用性。

• 执行高分辨率、高对比度成像，对磁性样本也不例外

• 同步检测材料、地形和边缘对比度，可分析完整的材料属性

• 执行极高通量表征，可实现形态学、化学和晶体学分析

• 提供独特的《用户指南》和 SEM 常见应用的逐步工作流程，任何经验水平的操作员都能即刻上手

Teneo 的生命科学应用

在细胞和组织的自然背景下解开其复杂的三维架构，这对于生物系统中的结构功能相关性非常重要。通过结合串行块面 SEM (SBF-SEM) 和多能反卷积 SEM (MED-SEM)，Teneo VS 以真正的各向同性三维分辨率实现大体积成像。

• 真正的大体积样本各向同性三维数据：MED-SEM 提供的出色 Z 轴分辨率和GX的原位切片

• 对所有样本的超高对比度和极高分辨率：镜头内探测器在高真空 (HiVac) 模式下提供极高对比度和 SNR，专用探测器在低真空模式 (LoVac) 下提供分辨率和电荷缓解。

• 在普通 SEM 用途和串行块面成像之间轻松切换：安装在载片台上的切片机外形紧凑，可轻松更换刀片

• 任何操作员均可即刻上手：高度自动化和易用性设计可提高操作员的效率，帮助完成大规模实验

• 工作流程解决方案可提GX率和准确度：通过 CLEM 方法快速识别观察区域，并通过自动化多层既定行程覆盖大体积样本