CAF测试系统 离子迁移测试系统

专业PCB可靠性测试方案
上海炜绫测试技术有限公司
CAF离子迁移测试系统CAF Test System Migration & Insulation Resistance Test System
★离子迁移测试
         离子迁移( C A F)测试是评价电子产品或元件的绝缘可靠性的一种测试方法，将样品置于高温高湿度的环境中，并在相邻的两个绝缘网络之间施加一定的直流电压（偏置电压），在长时间的测试条件下，检测两个网络之间是否有绝缘失效。实践证明，将 PCB放置于高温高湿的环境试验箱中，并在线路板上焊接电缆线，施加偏置电压，然后每隔一段时间，将 PCB从环境试验箱中取出，进行绝缘电阻测试，这种间断式的测试方法，会漏过很多实际发生的离子迁移。一方面因为将 PCB从环境试验箱中取出， PCB会变得干燥，从而导致绝缘电阻的上升，另一方面，当 PCB在高温高湿的环境试验箱中承受偏置电压时，离子迁移可能随时发生。
         有效的 PCB离子迁移测试，需要将 PCB放置于高温高湿的环境试验箱中，并在线路板上焊接电缆线，引出至环境试验箱外的有关测试设备上，以在线路板上施加促进离子迁移发生的偏置电压和进行绝缘电阻测试，同时能实时检测 PCB上的泄漏电流。
 
★MIR 离子迁移测试系统
MIR离子迁移测试系统的主要用途为：
       PCB基材， PCB，电容，连接器等元件
       SMT助焊剂清洗工艺的评价 
       电子绝缘材料，电缆及线材的绝缘的绝缘可靠性测试 老化性能评估
       MIR绝缘电阻测试系统适应 IPC TM 650 2.6.25, IPC TM 650 2.6.3, IPC TM 650 2.6.3.X，IPC-JSTD-004, IPC-CC-830, IEC-61189-5，IEC 1086，JPCA ET04，ISO-9455-17,Bellcore-GR-78-Core, 等标准。
 
 ★MIR 离子迁移测试系统主要特点
●可灵活选择的测试通道数
       可灵活选择的测试通道。每个 Slot提供多达 32个测试通道，系统可提供32*n（n=1，2...）不同数量通道。以应对不同批量试样的测试。
 ●系统模块化结构
       模块化结构，不仅易于扩展，还易于进行故障定位和维修。
 ●高精度绝缘电阻测试.
       系统采用高精度绝缘电阻仪作为核心仪表，保证测系统试结果的准确性。
 ●系统集成试验箱温湿度测试（选配）
       测试系统集成试验箱温度和湿度测量通道，实时检测试验箱实际温度和湿度并记录保存。无需试验箱开放接口和代码，适用于任何测试试验箱。
 ●Slot测试参数独立设置
       每个 Slot的测试参数可以独立设置，以同时应对不同的样品及测试要求。
 ●测试电缆检测
       系统可以检测测试电缆开路或短路。
 ●绝缘电阻和漏电流校正
       系统可对绝缘电阻和漏电流的测量结果进行校正，以保证测试结果的准确性。
 ●偏置电压极性可变换（选配）
       偏置电压的极性进行可以进行切换，使得偏置电压极性保持与绝缘电阻测试电压一致或相反，适应不同的测试标准方法。
 ●灵活的迁移条件设置
       可以设置绝缘电阻下降一定程度或低于一定值作为离子迁移发生的判断条件。迁移次数和漏电次数设定，发生迁移或漏电后可以继续加载偏置电压和进行绝缘电阻测试。
 ●漏电验证测试
       适用于研究和实效分析的漏电验证测试，发生漏电后，系统可以跳转至绝缘电阻验证测试，通道在设定的验证测试次数以内恢复，则继续测试，未恢复则判定失效。
 ●测试过程多画面显示，易懂易操作。
       测试过程中，测试状态和数据以表格，曲线，统计等多种界面呈现，使得测试状态和结果一目了然。
 ●高速漏电流监测
       每个通道的漏电流实时高速检测，防止错过短暂和细小的迁移的发生。是否开启漏电流检测，以及允许漏电的次数均可以由用户进行设置。
 ●样品失效保护
       系统每一通道都独立设置保护电路电阻以及转换开关，测试样品在发生离子迁移和电化学迁移树枝后，可以立即断开偏置电压，不被偏置电压所烧毁，不超过 0.1mA的保护电流，为用户保留Z完整的离子迁移现场，提高用户测试后失效分析机会。
 ●测试中可以修改测试时间
       测试时间将结束，但样品尚未失效时，可以在测试中修改延长测试时间，以期望出现样品失效。
 ●测试中途暂停,中断/继续
       测试中可以根据用户需要，暂停测试，待处理完成后继续测试。测试中断后,可以从中断处继续测试。
 ●专用PCB离子迁移测试夹具（选配）
       专用离子迁移测试夹具使得样品在试验箱的摆放更加整齐，紧凑，合理。防止短路，结露，以及温湿度交换不均匀。
       夹具主要材料： PTFE
       适用样品尺寸：15mm -500mm
       适用样品厚度： 3mm（max）
 ●测试数据自动保存
       测试系统可以将测试数据自动保存，所有每一次测试数据可以在无人干预下自动保存，避免因为断电，停机，计算机错误以及用户错误操作导致的或关闭软件导致的测试数据丢失。
 ●独立的数据分析和报告软件
       系统含独立的测试数据分析以及报告生成软件。任何时候都可以将测试数据调出进行检查和分析
 ●测试报告一键输出。
       测试完成后，用户自由选择样品信息，测试设置，以及各种测试数据结果，一键即可导出测试报告。
 
MIR CAF test system  MIR离子迁移测试系统产品规格表
 

 ●由于产品改进，升级以及其他需要，产品特点、规格、外观以及性能等可能在无预先告知的情况下出现变更。