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新型静电压痕仪

产品信息

新型静电压痕仪

产地:瑞士
YXJD-II 型静电压痕仪的主机尺寸为430x430mm,可适用于大尺寸或小尺寸的薄膜。其所使用的薄膜类型为IW和SP,能满足多种不同应用,例如:提取纸张上的书写凹痕(凹槽);在不同种类的纸张上还原足迹压痕。 
产品特点:
1.更灵敏
2.更便于清理回收显色剂的设计
3.将被检测痕迹以1:1的比例提取到薄膜上
4.对纸张上书写凹痕的提取,可忽略文件上其它内容
4.在检测过程中不会对被测文件有任何损坏
6.文件加湿箱,使被检测文件更易于被电晕单元进行处理

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