氮吸附比表面积测定仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面积检测仪,介孔微孔分布测定仪,比表面积测量仪,BET比表面积分析仪,比表面测定仪,比表面测试仪,BET比表面分析仪,孔容积测定仪,孔径分析仪,孔径检测仪产品介绍：V-Sorb 2800P Series系列产品是我公司自主研发的比表面积及孔径分析仪器，采用静态容量法测量原理。相比国内同类产品，多项技术的采用使产品整体性能更加完善，测试结果的准确性和一致性进一步提高，测试过程的稳定性更强，达到国际同类产品先进水平，部分功能超越国外产品。氮吸附比表面积测定仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面积检测仪,介孔微孔分布测定仪,比表面积测量仪,BET比表面积分析仪,比表面测定仪,比表面测试仪,BET比表面分析仪,孔容积测定仪,孔径分析仪,孔径检测仪。我们的产品设计更多从用户使用的角度出发，使V-Sorb 2800P Series产品具备了完全的自动化操作，操作界面人性化，简单易学；通过采用合资或进口零配件，大大提高了产品可靠性和使用寿命。产品整体设计上的完善和严格的产品制造和检测工序，确保产品更加符合用户实际需求，同时V-Sorb 2800P Series系列产品的高性价比有效保障了用户的投资利益，灵活的产品配置可满足不同用户的不同需求。
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比表面仪测试方法：氮吸附静态容量法
比表面积仪主机功能：吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,Langmuir法比表面积测定
BET法比表面积测定（单点及多点）,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定；
比表面积分析仪测量范围：0.01(m2/g）--至无上限（比表面积） 0.35nm-400nm（孔径）
比表面测试仪测量精度：重复性误差小于1.5%
比表面积检测仪真空系统：V-Sorb的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命.
比表面积测量仪液位控制：V-Sorb的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差.
比表面测试仪测量模式：“单一氮气”和“氮气+氦气”两种测试模式WM结合，灵活切换，满足不同特性样品测试需求；
比表面测量仪标定气体：具备可选择使用He气（99.999%）进行冷自由空间体积标定的功能，不能仅仅只具备采用“氮气+空管”模式标定冷自由空间；
比表面积测定仪样品处理：样品处理的全过程通过软件来自动控制，包括温度、时间及真空泵启停，且具备处理开始时间的预设功能，可实现夜间无人值守式测试和处理样品，大大提高工作效率；
比表面积分析仪控制系统：采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命.
比表面仪样品数量：同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理
压力测量：采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)
压力精度：进口硅薄膜压力传感器，精度达实际读数的0.15％，优于全量程的0.15％，远高于皮拉尼电阻真空计精度（一般误差为10%-15％）
比表面积仪分压范围：P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995
极限真空：4x10-2Pa (3x10-4Torr)
真 空 泵：真空泵内置仪器中，且通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停，从而延长真空泵的寿命
样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等
比表面积测试仪测试气体：高纯N2气（99.999%）或其它（按需选择如Ar，Kr）
数据采集：高精度及高集成度数据采集模块，误差小，抗干扰能力强。
数据处理：Windows兼容数据处理软件，功能完善，操作简单，多种模式数据分析，图形化数据分析结果报表。
1)超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积及孔径分析测定；
2)粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；
3)高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET理论教学实验；
4)电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5)其它与材料表面性能相关的研究工作。
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