万深LA-S植物图像分析仪系统全能型版

万深LA-S植物图像分析仪系统（全能型版）

一、用途：用于植物年轮分析、根系分析、叶面积分析、病斑面积分析、虫损叶面积分析、叶片叶色分析、作物冠层分析、瓜果剖切面分析等。
二、主要性能指标：
1）配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪。扫描年轮、叶面积、根系的反射稿为A4加长幅面（35.6 cm×21.6 cm），正片为30 cm×20 cm，最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。配自动对焦的大景深800万像素拍摄仪。配10000mAH的12V移动电源的辅助背光源板，可野外辅助照明3小时。该野外成像背景板ZD测量面积A4纸幅面，具有自动图像校正与自动测量标定特性。
2）植物年轮测量分析：可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成分析年表。可直接分析达2亿像素高精度扫描的超大幅面年轮图像。具有【精细】分析选项，可自动分析出≤0.2mm宽度的年轮，分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。可计算树盘总面积，分析木材的边材面积。
3）可全自动地大批量分析计算叶面积，并以叶片目标边缘标记来核对其正确性。可同时分析多张叶片面积，及分析小至1mm2的叶片。可分析多片叶叶面积、叶长宽、叶周长、叶长宽比、叶柄、病斑面积、虫损叶面积（含分析2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积）、测量植物的叶绿素相对含量或“绿色程度”，分析叶片叶色（具有按英国园林协会RHS比色卡的比色特性）、可分析作物冠层。可交互进行植物相关的各种尺寸、角度测量。

4）植物根系测量分析：（1）根总长、根平均直径、根总面积、根总体积、根尖计数、分叉计数、交叠计数、根直径等级分布参数、根尖段长分布，（2）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数；能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。（3）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改，可不等间距地自定义），并能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。能用盒维数法自动测根系分形维数。大批量的全自动根系分析，对各分析结果图可编辑修正。可分析根瘤菌体积在根系中的占比，以客观确定根瘤菌体贡献量。
4）瓜果剖面各部位分析：可测西瓜的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、空心面积、瓤色分档分析、外周长；可测哈密瓜等甜瓜的：纵径、横径、果形指数、截面积、肉厚、外周长、瓤色分档分析、种腔（纵径、横径、面积）；可测苹果、梨等的：纵径、横径、果形指数、总面积、核心面积、肉色分档分析、外周长；可测柑橘类水果的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、肉色分档分析、外周长。
5）各分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图。

推荐选配电脑：酷睿双核/4G内存/1G独立显存/500G硬盘/ 19.5”彩显/无线网卡
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应用万深系列考种仪、植物图像分析仪器在国内外高端学术刊物上发表的部分学术论文已逾506篇：http://www.wseen.com/News.aspx?id=6
有老师用万深系统来GX率实验，在Nature上发表的论文影响因子（IMF）有40多（Huang, X. et al. Genomic analysis of hybrid rice varieties reveals numerous superior alleles that contribute to heterosis. Nat. Commun. 6:6258 doi: 10.1038/ncomms7258 (2015).）。
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【植物图像分析视频】                              

扫描成像式叶面积仪测单叶和多叶叶面积 

拍照成像式叶面积仪测单叶和多叶叶面积

扫描成像式叶面积仪测单叶和多叶叶面积1

叶片病斑分析

叶片病斑分析、缺叶面积测量

多叶叶面积测定

叶面积批量处理

根系分析系统测复杂根系、并修正输出

根系分析系统测稻芒长、直径

LA-S原位根系图像分析

LA-S原位根系图像分析、锁定修正

LA-S原位根系图像分析及修正

根系修正、连接分析、拓扑分析

根系连接分析、拓扑分析

瓜果剖切面分析的绿橙分析 

年轮分析系统在不同方向测树盘