原子力显微镜AFM/扫描隧道显微镜STM/磁力显微镜MFM

MicroNano - 3000型多模式扫描探针显微镜
简介
这款机型除了拥有AFM-III型原子力显微镜的全部功能以外，主要增加了磁力显微镜功能。集STM、AFM接触/非接触/侧项力/轻敲模式、MFM于一体。并使用了智能针尖连接专利技术，使各种工作模式之间的转换只需替换相应的针尖架，不必替换整个探头，软件能够自动识别当前针尖类型，并自动切换到相应的工作模式。操作非常方便。
用户还能根据不同的科研要求，选择3μm-100μm不同范围的扫描器，以及高分辨CCD观测系统和高精度样品X-Y移动平台，使操作更加方便、精确。

产品技术指标
扫描模式：STM恒流/恒高模式扫描/ I-V曲线测量/I-Z曲线测量/针尖修饰（脉冲）
AFM接触/非接触/侧向力/轻敲模式形貌/划移扫描，F-Z曲线
磁场力成像
样品尺寸：≤Φ10mm
样品厚度：≤5mm
扫描范围：标准配置6μm×6μm
分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
接触模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）
轻敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)
XYZ控制：双12-bit D/A（相当于20位精度）
数据采样：双12-bit A/D （相当于20位精度）
ZD扫描速率：20000 P/S
扫描角度：0~360°
图像采样点：256×256 / 512×512
马达控制：线动螺纹+自动马达，行程<10mm，精度<0.1μm
计算机接口：标准并行口
配套功能强大的MicroNano SPM 2.1软件系统

可选配件
3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm规格扫描器
高分辨CCD观测系统
高精度样品X-Y移动平台

MicroNano SPM 2.1软件系统
功能强大，使用方便，不需要说明书的软件。
采用我公司的“所见即所得”视窗界面，不同于通常的菜单和对话框模式的软件，操作非常简单，当前工作状态下用不到的功能会自动隐去，使界面更简洁，避免误操作。

在线实时控制软件
1. 兼容Windows 9X/Windows ME/Windows NT/Windows2000操作系统
2. 同步多通道扫描和数据采集：可同时进行XY扫描更新和同步采集2-4种物理量，并在2-4个图像数据窗口中同时显示。
3. 在实验过程中不仅可以方便地完成形貌扫描，而且可以方便地测量其间的相互作用，并绘出曲线。
4. 可同时打开多个窗口进行数据采集和处理。
5. 可以在扫描过程中随时选择窗口内或窗口外的区域重新扫描。系统会根据新选择的扫描范围自动改变相应的扫描速度。
6. 对扫描范围的失真进行全自动动态修正

离线处理软件
1. 傅立叶滤波、边缘增强、卷积滤波、高斯滤波、局部统计滤波等功能
2. 粒度分析功能
3. 粗糙度分析功能
4. 扫描线消除功能
5. 自动倾斜校正功能
6. 平面拟合校正，可以对大范围扫描时产生的畸变进行校正
7. 二维、三维图象显示，可以任意角度旋转图像
8. 允许用户同时打开多个图象文件操作
9. 历史记录功能，保存图像的物理环境，打开图像后可在上次的环境下继续扫描
10. 图象浏览功能，用户可以浏览整个目录的图形文件缩略图，方便用户检索文件
11. 调色板设置和调色板自适应功能
12. 图像导出和导入功能，可以将图像导出为DI图像文件、TIFF图像文件、JPEG图像文件，可以导入所有已知数据格式的图像文件