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硅片测厚仪|千分台式硅片测厚仪

产品信息
千分台式硅片测厚仪

千分台式硅片测厚仪
名称：千分台式硅片测厚仪
分 度 值：0.001mm
测量范围与准确度：0mm～1mm ≤0.005mm
主要用途：用机械测量法测定硬质材料厚度
执行标准：根据客户要求定做
信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（上海嘉展仪器设备有限公司），内容包括 （ 硅片测厚仪|千分台式硅片测厚仪）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （ 硅片测厚仪|千分台式硅片测厚仪）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
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