FS-70 378系列 日本三丰Mitutoyo FS-70 378系列— 半导体检测用显微镜

类型	半导体检测用显微镜	品Pai	日本三丰Mitutoyo
型号	FS-70 378系列	仪器放大倍数	0
目镜放大倍数	0	物镜放大倍数	0
重量	0（g）	适用范围	0
装箱数	0

FS-70378 系列 — 半导体检测用显微镜特点• 此光学系统初是为畅销的 FS60 型 (后升级为 FS70 型) 而开发的。它作为测量检测半导体器件的显微镜是很理想的。• FS70L 支持3 种YAG 激光波长(1064nm,532nm, 355nm)， FS70L4 支持 2 种波长(532nm,266nm)，可在半导体和液晶基板中使用激光切割和薄膜技术。这就扩大了激光的使用范围。然而，使用三丰量具对显微镜的激光系统的性能和安全性，三丰公司不负责任。我们推荐在选购激光发射器时应仔细检查。• FS70Z 的标准功能有：亮视场，微分干涉对比 (DIC) 和偏振观测。FS70L FS70L4 不支持 DIC。• 使用内置式转换器使得长工作距离物镜的操作很简单。• 极易操作的设计：FS70 采用正像光学系统(视场中的像与样品方向相同) 并用橡胶把手加大微调手轮。