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微焦点DR检测系统 高分辨率微焦点DR检测系统 修改

产品信息
高分辨率微焦点DR检测系统
关键特征:190kV/225kV/240kV反射型高功率微焦点射线源
 JIMA卡空间分辨率测试可达2微米
支持多种平板探测器,探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米
高分辨率的实时快速成像
快速图像处理,保存多种图像格式 主要技术规格:

微米焦点射线管


类型


反射型高功率微焦点射线管


Z大管电压


190kV/225kV/240kV/300kV


冷却


封闭式自循环冷却


焦点大小


225kV/240kV:2微米 (采用JIMA卡测试)


300kV:3微米(采用JIMA卡测试)


探测器


类型


非晶硅平板探测器/线阵探测器


像素大小


100um /127um /139um/200um


像素数量


平板探测器:>2048x2048


线阵探测器:4100


机械系统


类型


高精度机械系统


Z大有效检测范围


可定制化


Z大承重


可定制化


旋转


nx360°


软件


类型


二维射线检测


软件功能


系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能

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