UTX850 X射线荧光光谱仪/光谱元素分析仪/元素分析仪(图)
- 产地：江苏 苏州市
- 供应商：昆山三友新天机电科技有限公司
- 供应商报价： 电议
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产品库
| 品Pai | 优特 | 型号 | UTX850 |
| 主要应用范围： ROHS有害元素检测 材料分析和镀层厚度（膜厚）测量 | |
| 镀液分析、黄金等贵金属鉴定 | 探测器： 硅锂半导体探测器 |
| X射线管： 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选 | |
| 滤光器： 一次滤光 | 样品观察： CCD高精度彩色摄像头 |
| 准直器： Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm，多种准直器可选 | |
| 对焦系统： 激光对焦 | 测量方向： 从上向下 |
| 样品台： 多种样品台可供选择(XYZ可移动样品台，程控样品台，固定样品台) | |
| 可测元素： K到U | 测试时间： 镀层厚度：10-100s |
| 元素含量：60-300s | 元素含量分析指标：分析范围：1PPM-99.99% |
| 准确度：5% | 精确度：0.1% |
| 检出限：1PPM | 镀层厚度的检测指标：准确度：一层5%，第二层10% |
| 精确度：0.1% | 检出限：0.01μm |
| 测试软件： 基本参数法 | 定性功能： 自动标示存在元素 |
| 定量功能： 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样 | |
| 报告结果： 自动生成 | 数据处理： MS-EXCEL |
