GPM-50 透反射硅片检测显微镜,高倍显微镜,硅片检测显微镜

是否提供加工定制	是	类型	光学显微镜
品Pai	巴拓	型号	GPM-50
仪器放大倍数	50X-600X	目镜放大倍数	10X
物镜放大倍数	5X 10X 40X 60X	适用范围	金属太阳能板、多晶硅、单晶硅、太阳能硅片检测、集成电路、电子芯片、电路板、液晶板、镀涂层，薄膜、粉末及其它非金属材料、大专院校，科研机构，工厂等的理想仪器
装箱数	1

GPM-50系列高倍透反射硅片检测显微镜适用于对透明与不透明，或者半透明的物体进行显微观察。仪器配置落射照明与透射照明系统、长距平场消色差物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时还配有内置偏光观察装置。本仪器可用于鉴别和分析各种金属和合金材料及非金属物质的组织结构，广泛应用于电子、化工和仪器仪表行业观察不透明的物质。如金属太阳能板、多晶硅、单晶硅、太阳能硅片检测、集成电路、电子芯片、电路板、液晶板、镀涂层，薄膜、粉末及其它非金属材料，对一些表面状况进行研究分析的工作等。本仪器系大专院校，科研机构，工厂等的理想仪器。系统组成简介：GPM-50V/GPM-50C电脑（数码）系列高倍硅片检测显微镜成像系统是通过光电转换与计算机，数码相机以及电视机等设备结合在一起，不仅可以在目镜上观察，还能在显示屏幕上观察实时动态图像，还可在计算机，数码相机上将所需要的图片进行编辑、保存和打印。性能特点：配置大视野目镜和长距平场消色差物镜，视场大而清晰。粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，微动格值:2μm。带限位锁紧装置配置落射与透射两套照明系统，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察三目镜筒,可自由切换正常观察，可进行透光摄影技术参数：

平场目镜	放大倍数(X)		视场(mm)
	10X		Φ18
平场消 色差物镜	放大倍数（X）	数值孔径（NA）		工作距离（mm）
	5X	0.12		18.3
	10X	0.25		8.9
	40X	0.60		3.7
	60X	0.85		0.26
光学放大倍数	50X100X400X600X
系统参考放大倍数	50X-3000X
目镜筒	三目镜,倾斜30?瞳距调节范围：53-75mm
照明系统	落射照明器，6V/20W卤素灯，220V（50Hz）亮度可调. 透射照明：6V/20W卤素灯，亮度可调；220V（50Hz）
偏光装置	三目头内置检偏振，可插入式起偏振片,垂直照明装置，
调焦机构	粗微动同轴调焦,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置微动格值:0.002mm,调焦范围15mm
转换器	四孔(内向式滚珠内定位)
滤色片组	黄色、蓝色、绿色、磨砂玻璃
载物台移动范围	X方向：75mm；Y方向50mm

仪器选配件：目镜：5X20X10X分划物镜：20X50X80X100X（油）动态检测软件：BT-2000V二维图像测量软件：BT—2000M