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SS-GSZ-HP-501 四探针探头 探头 的描述

产品信息

四探针探头 探头 的描述

型号：SS-GSZ-HP-501
四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。


四探针探头 探头 型号：GSZ-HP-501





四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。


◆ 特性及规格：

1
 特制之手握式探笔
2
 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3
 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4
 探头使用寿命长
5
 探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
型号

（Model）
曲率半径

（Radius）
压力

（loads）
探针间距

（spacing）
探针排列

（Arrangement）
SS-GSZ-HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直线




北京奥德盛世科技有限公司
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：
：周先生
邮箱：aodeshengshi@163.com
Q Q: 133505549
网址：http://aodeshengshi. www.51294569.com



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