PXS8-Te PXS8-Te同轴光体视显微镜|同轴光显微镜

类型	体视显微镜	品Pai	/
型号	PXS8-Te	仪器放大倍数	/
目镜放大倍数	/	物镜放大倍数	/
重量	/（g）	适用范围	/
装箱数	/

PXS8-Te同轴光体视显微镜适用于电子线路板、芯片封装、珠宝鉴定、研相矿本分析、微小精密零件品质控制、装配、GA、银行痕迹对比、教学示范、临床手术样本、农业选种，纺织品检验、养殖业品种优选、病理分析。PXS8-Te来自美国的品Pai，目前国内仅有的高倍立体显微镜，我们采用和国外同步的同轴光技术，以满足对透明封装后的芯片特殊检测标准的使用要求。品质优良的光学系统使图像更明亮，即使长时间观测眼睛也不会疲劳。粗微动的调焦首次应用在高倍体视上，使高倍调焦变得更加JZ。多种支架的选配，总能满足复杂工位的操作要求。还有各种光谱光源的配合，帮助解决碰到的困难。PXS8-Te同轴光体视显微镜技术参数镜筒：双目，45度倾斜高眼点大视野目镜：PLAN10X/20 mm物镜：0.9X-7.4X变倍比：1：8.2总放大倍数：9-74X调焦：粗微动调焦，粗动立杆高度300mm，升降范围105mm工作距离：102mm光源:同轴光.