一米平面光栅摄谱仪31WIA 一米平面光栅摄谱仪31WIA(图)

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一米平面光栅摄谱仪31WIA

一米平面光栅摄谱仪31WIA的具体信息： 用 途本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量，主要用于金属合金（包括矿物井石）的日常定性定量分析，纯金属和材料的杂赞同鉴定，与各种附件配合，用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。技术参数工作波段：200-850nm摄谱仪焦距：F=1050mm相对孔径：1：22狭缝主要指标：宽度范围 0.002-0.3毫米　　　　　　 宽度分度值 0.001毫米　　　　　　 宽度再现性 0.001毫米　　　　　　 有效高度 10毫米波长显示:计数器(精度±1nm)光栅：1200条/mm 2块外形尺寸:(长、宽、高)1300*1500（包括导轨在内）*600mm 仪器成套性31WIA平面光栅摄谱仪　　 1台聚光镜组（一）及其座子 1组（保护片4片）聚光镜组（二）及其座子1组燕尾形导轨　　　　　　1根暗盒240*90（mm）　　　　 2盒备用一只毛玻璃　　　　　　　　 1块8X放大镜　　　　　　　　 1只“十字盖”　　　　　　 1只调整透镜照明系统用I、II级光谱滤色片　　 各1组 装在小木盒内1200条/mm平行光栅（闪耀波长300nm） 1组1200条/mm平行光栅（闪耀波长600nm） 1组1800条/mm平行光栅（闪耀波长300nm） 1组太阳镜　　　　　　　　　　　　　　 1付电极架（包括快速电极夹2付）　　　　 1组 使用说明书（连同标准样片）　　　　 1份谱线图　　　　　　　　　　　　　　 1套合格证　　　　　　　　　　　　　　 1份工作台　　　　　　　　　　　　　　 1套ADE-20交直流电弧发生器　　　　　　 1台太阳镜　　　　　　　　　　　　　　 1付安装工具（内六角板头）　　　　　　 1把装箱单　　　　　　　　　　　　　　 1份连接导线　　　　　　　　　　　　　　5根保险丝0.　　　　　　　　　　　　 3只转椅　　　　　　　　　　　　　　　　 1把