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PSZ-IV PSZ-IV型气压扫描塞曼效应仪

产品信息
是否提供加工定制是品Pai杭光
型号PSZ-IV用途通过改变FP标准具镜间的气压，实现干涉光谱的扫描。
通过改变FP标准具镜间的气压，实现干涉光谱的扫描。FP标准具精度高，平面度优于λ/100，保证高分辨率。可分别观察FP标准具等倾干涉和等厚干涉。以等厚干涉作为标准具平行度和平面度的灵敏指示。从而更好地调整和发挥仪器功能。技术参数：平面度：λ/100精细度：F≥35自由光谱范围(FSR):75GHz(可定制)通光孔径：Φ25mm气压扫描范围：1～3（atm)
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